Очень интересный патент появился в портфеле «яблочного» бренда – компания разработала систему контроля износа деталей электронной начинки по мере их эксплуатации. В ее основе лежит непрерывный мониторинг фактических показателей работы конкретных узлов и вычисление разницы между ними и эталонными значениями. Затем следует точечная корректировка распределения нагрузки – при сохранении производительности на приемлемом уровне это продлевает срок жизни устройства.
Официальное наименование технологии, описанной в документе № 8671170 – «Изменения параметров работы системы, основанное на данных о старении его компонентов». Из описания становится понятно, что предназначена она, в первую очередь, для категории мобильных гаджетов, которые в силу малых размеров комплектуются упрощенными и потому более уязвимыми версиями стандартных модулей.
Замеряя их электротехнические параметры, можно мониторить, как данный узел изнашивается по мере эксплуатации. Чем больше разница между заданными и фактическими значениями, тем больше идет нецелевой расход энергии и заметнее снижается общая производительность системы.
Количество метрик велико и при их анализе учитывается специфика работы того или иного узла, его предназначение и интенсивность использования в данном конкретном устройстве. Например, едва ли не главной причиной выхода из строя микросхем является обычный перегрев, а в смартфоне полным-полно модулей, которые генерируют избыточное количество тепла. Если данный iPhone достался заядлому геймеру, можно с высокой степенью достоверности вычислить, что именно сломается первым.
В основе технологии мониторинга – механизм цикличного опроса основных узлов системы, в котором данные пропускаются через обособленный счетчик-анализатор. Он не принимает участие в работе самого устройства и отслеживает лишь изменения в поведении модулей, включенных в данную цепь. Анализатор ищет данные, которые могут косвенно указывать на старение — например, увеличение времени отклика от одного из узлов. Или его выход на максимальную производительность, что происходит при запуске ресурсоемких приложений – чем чаще такое случается, тем выше риск преждевременного износа электронного компонента.
Современные гаджеты снабжены изрядным количеством сенсоров – новая технология позволяет задействовать для анализа и их данные. Активность в течение суток, температура атмосферы снаружи, частота падений или просто встряхиваний, например, при активации соответствующей функции в играх. Для анализа скорости старения имеет значение даже географический регион пребывания устройства и уж конечно показатели энергопотребления. Все АЦП в системе, вроде модуля микрофона в телефоне, подлежат проверке в первую очередь – преобразование аналогового сигнала в цифровой сопровождается определенными рисками.
Информация собирается, накапливается и применяется для составления статистических сводок, при этом местом хранения выбран внешний накопитель. Стационарный компьютер, удаленный сервер, выделенный для этих целей облачный сервис – вариантов предостаточно. Вероятнее всего, обустройством хранилища озаботится компания-производитель самого смартфона, которой жизненно важно обладать информацией о степени износа и условиях эксплуатации своей продукции. Основная цель технологии – вычислять дату обновления или ремонта аппаратной начинки гаджета до того, как пользователь с раздражением отметит, что его аппарат перестал работать корректно. К тому же, это ценные сведения для конструкторов, занятых вопросами проектирования новых, более совершенных аппаратов.
И даже больше, существует ощутимая взаимосвязь между версией ПО и текущим уровнем железа, в ряде случаев целесообразнее «откатиться» до более ранней прошивки. Или, по крайней мере, не торопиться с установкой новой – все это в виде рекомендаций может быть предоставлено владельцу конкретного, порядком изношенного смартфона. Кроме того, данные сведения помогут сотрудникам службы поддержки оперативно разобраться, что к чему. Заявка на патент подана в 2011 году, авторами изобретения указаны Майкл Фрэнк (Michael Frank) и Дейт Жан Виллем Нурлаг (Date Jan Willem Noorlag).